入射角
修正参数 (IAM)
入射角修正参数 (IAM) 系数用于评估光伏组件对来自不同角度的光线的响应。IEC 61853-2:2016 定义了一种室内测试方法，通过测量短路电流 (Isc)，表征光伏器件相对于入射角 (AOI) 的 IAM 值。Kiwa PVEL 对该测试方法进行了改进，以获取双玻和玻璃//背板组件的 IAM 特性曲线。这种独特的室内 IAM 测试方法在精度和重复性方面展示了世界领先的结果。
关键 要点
分布紧凑
Kiwa PVEL 在数十个组件中测得的 IAM 性能差异极小。过去一年中使用 Kiwa PVEL 顶级测试方法的测量结果继续表明，商用组件的 IAM 值相对一致。这可能与制造商提供的 IAM 曲线（包括来自其他第三方实验室的曲线）相矛盾。 查看“测试车队的 IAM 测量结果”了解更多。
显著差异
结果范围可能比某些人预期的要小，但仍然存在显著差异。凭借全球精度最高的 IAM 测试，Kiwa PVEL 可以准确测量不同 BOM 之间的 IAM 性能差异。在美国拉斯维加斯模拟的单轴跟踪系统中，表现最佳者的建模能量收益比表现最差者高出 0.60%。 查看“测试结果焦点”了解更多。
与默认值比较
PVsyst 默认 IAM 值略低于大多数测得的 IAM 结果。在美国拉斯维加斯模拟的单轴跟踪系统中，Kiwa PVEL 过去一年测量的典型组件与 PVsyst 的 Fresnel ARC 默认值相比，能量收益高出 0.12%。这种差异在固定倾角和多云条件下更为明显。 查看“测试结果焦点”了解更多。
电池技术影响
平均而言，HJT 组件的 IAM 值低于 TOPCon 和 PERC 组件。虽然 HJT 的样本量较小，但 Kiwa PVEL 的 IAM 测量表明，HJT 组件的平均 IAM 低于 TOPCon 和 PERC 组件。这可能是由于 HJT 电池非晶硅层对蓝光的吸收所致。 查看“测试结果焦点”了解更多。
IAM 测试结果
焦点
尽管 IAM 测量结果的契合度相对较高，但不同材料清单 (BOM) 之间的差异对于项目的能量和财务模型仍然具有显著意义。与低纬度、阳光充足的单轴跟踪站址（如美国拉斯维加斯）相比，这些差异在固定倾角、高纬度和/或多云地区（如美国波士顿）更为明显。Kiwa PVEL 还发现 IAM 测试趋势中存在一定的电池技术依赖性。虽然不同技术之间存在重叠（特别是 PERC 和 TOPCon 之间），但这两种电池技术的平均和中值测量 IAM 表现均优于 HJT 组件。同样，这些差异在波士顿的固定倾角模拟中变得更加显著。
在两个模拟站址中，使用相同的 IAM 数据集，对比测量得到的 IAM 与 PVsyst Fresnel ARC 默认值（以 0.0 表示）对电池技术建模能量收益的影响。
查看箱线图解读指南测量得到的 测试车队 IAM 数据
Kiwa PVEL 在过去一年中对 44 个材料清单（BOM，每个 BOM 测量三个样本）进行的 IAM 测量结果继续显示出相对紧凑的一致性。平均而言，这些测量结果在所有入射角下均优于 PVsyst Fresnel ARC 默认值。
Kiwa PVEL 对 2024 年和 2025 年第一季度 44 个 BOM 的 IAM 测试结果显示出极强的一致性。图中包含 PVsyst 的 Fresnel ARC 默认值作为参考。
1 Kiwa PVEL 在高达 60 度入射角 (AOI) 下的总扩展不确定度 <0.5%。在之前比较 IAM 不确定性的研究中，其他实验室自报的总扩展不确定度范围在 60 度 AOI 下为 1.2% 至 2.5%。
2 Riedel-Lyngskær N, Santamaría Lancia AA, Plag F, et al. 光伏器件角度相关测量实验室间比对：结果及其对能量评级的影响。Prog Photovolt Res Appl. 2021; 29: 315–333。 https://doi.org/10.1002/pip.3365
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