电势诱导
衰减 (PID)
PQP 的电势诱导衰减 (PID) 测试将 IEC/UL 认证测试从 96 小时延长到 192 小时,更准确地模拟了光伏组件在高压应力下的寿命。PID 发生在太阳能电池与接地框架之间的电势差引起漏电流时,从而导致组件性能退化。对于高系统电压以及高温高湿的环境,该测试至关重要。
关键 要点
更多最佳表现者
2024 年生产的 BOM 中,72% 在 PID(-) 测试后的退化率 < 2%。这比 2023 年生产的退化率 < 2% 的 BOM 比例 (57%) 有所增加。虽然这不是统计上的显著变化,但 PID(-) 后的中值退化率从 2023 年生产的 1.9% 下降到 2024 年生产的 1.5%。两个功率损耗分别为 11.9% 和 17.6% 的 PID(-) 异常值拉低了 2024 年 BOM 的平均水平。 查看下方的功率退化图表以了解更多信息。
组件类型影响极小
不同电池技术和层压类型的测试结果保持一致。虽然与 PERC 和 HJT 相比,TOPCon 的结果范围更广,但 TOPCon、PERC 和 HJT 电池技术,以及双玻与玻璃//背板结构的 PID(-) 敏感性在统计上没有显著差异。电池技术和组件类型不是 PID 性能的可靠指标。
PID(+) 与 PID(-)
正极性的 PID 通常低于负极性。2025 年计分表的新规定是,PID 最佳表现者在 PID(-) 和 PID(+) 中的退化率必须均 < 2%。PID 通常在 PID(+) 下较低,但在 PID(-) 退化 < 2% 的 BOM 中,有 9% 在 PID(+) 下的退化 ≥ 2%,从而将其从最佳表现者名单中剔除。相反,在 PID(+) 下退化 < 2% 的 BOM 中,有 32% 在 PID(-) 测试后的退化 ≥ 2%。
PID 测试结果
焦点
PQP 测试继续揭示了一些容易受到 PID 极化 (PID-p) 影响的 BOM,包括下方的 TOPCon 组件。Kiwa PVEL 的测试证实,许多 BOM 并不表现出 PID-p,但其他一些 BOM 可能会遭受大量的功率损失。虽然随后暴露在 2 kWh/m2 的紫外线下(相当于室外数周)通常可以逆转这种影响,但 NREL 和 FSEC 最近的工作已显示出在现场发生 PID-p 的案例。考虑到太阳能电站发生 PID-p 的可能性,PID 最佳表现者的标准是在任何紫外线恢复前,PID192(-) 和 PID192(+) 的功率损失均 < 2%。
初始阶段
预应力图像显示没有 PID 敏感性迹象。
PID192(-)
经过 192 小时的 PID(-) 测试后,由于极化电荷的累积,大多数电池显示出明显的变暗。
紫外线恢复
经过 2 kWh/m2 的紫外线照射后,大部分极化效应已得到逆转。
功率退化:
PID BOMs
查看电势诱导衰减 (PID) 最佳表现者
点击此处查看列为 PID 最佳表现者的 150 个 BOM。
所有 2013/2014 和 2015 年的结果均来自 600 小时的 PID 测试。从 2016 年及之后的结果起,测试时间减少到 192 小时。仅显示 PID 负极性结果。
未显示退化率 >10% 的异常值。在某些情况下,这些异常值会导致平均值显著降低。
查看箱线图解读指南1 Peter Hacke, Cecile Molto, Dylan Colvin, Ryan Smith, Farrukh Ibne Mahmood, Fang Li, Jaewon Oh, Govindasamy Tamizhmani and Hubert Seigneur. EPJ Photovolt., 16 (2025) 16. 双面 PERC 组件在户外的极化型电势诱导衰减 (PID)。 https://doi.org/10.1051/epjpv/2025004