LID +
LETID

PQP 的光诱导衰减 (LID) 和光热诱导衰减 (LETID) 测试量化了这些通常被纳入能量收益模型的电池片现象。LID 因电池技术而异，但主要影响硼掺杂电池片，并在组件部署后不久趋于稳定。LETID 主要影响早期生产的 PERC 电池片，在气候炎热的地区更为严重。由 LETID 引起的退化在数月或数年后达到最大值。

关键要点

极低退化

93% 经测试的 BOM 在 LID 加 LETID 的综合测试中功率损失 < 1%。

这比 2024 年计分表中报告的 96% 的 BOM 比例略有下降，但 2023 年和 2024 年生产的 BOM 的中值和平均结果几乎相同。LID 和 LETID 仍处于历史低位。查看下方的功率退化图表以了解更多信息。

不同技术的 LID

不同电池技术的 LID 数值均较低，且统计上没有差异。

符合 2025 年计分表要求的 BOM 的中值 LID 功率损失为：TOPCon 为 0.4%，PERC 为 0.4%，HJT 为 0.3%。平均功率损失为：TOPCon 为 0.4%，PERC 为 0.3%，HJT 为 0.4%。虽然 PERC 和 HJT 的样本量较小，但无论采用何种电池技术，LID 结果在统计上都是相同的。

不同技术的 LETID

与 LID 类似，不同电池技术的 LETID 结果差异极小。

符合 2025 年计分表要求的 BOM 的中值 LETID 功率损失为：TOPCon 为 0.0%，PERC 为 0.0%，HJT 为 0.2%。平均功率损失为：TOPCon 为 0.1%，PERC 为 0.2%，HJT 为 0.1%。三种电池技术的结果范围也观察到了很强的重叠。

初始故障减少

预应力测试故障从 2024 年计分表的高位下降。

5% 的 BOM 经历了至少一个预应力测试故障，低于 2024 年计分表的 11%。在预应力测试故障最严重的例子中，一个 BOM 在 LID 测试期间出现了多个组件玻璃破碎（见下方的测试结果焦点）。初始安全故障、接线盒盖缺失和脱层也时有发生。请参阅故障页面以获取更多信息。

测试结果
焦点

双玻组件发生自发性玻璃破碎是影响当今光伏组件最显著的可靠性问题。Kiwa PVEL 了解到这种情况发生在多个国家、多种组件型号上，并安装在多种跟踪器/支架解决方案上。虽然这通常不是一种与 LID 和 LETID 测试相关的故障模式，但 Kiwa PVEL 最近惊讶地发现，在户外 LID 测试后，来自某个 BOM 的 20 个组件中有 6 个显示出独特的玻璃破碎模式。沿汇流带的裂纹表明层压件边缘缺少封装材料，导致金属汇流带与玻璃表面之间产生边缘挤压引起的应力集中点。