Skip to main content

LID + LETID

为什么LID+LETID测试很重要

2021年,Kiwa集团的成员PI Berlin公司就中东和北非地区的一个>~100兆瓦的太阳能发电厂的表现不佳而与之联系。 对现场监测数据、IV曲线跟踪和运行与维护记录的审查表明,在现场开始运行后的18个月,就出现了模块级的问题。

PI Berlin对现场的20个组件进行了基于实验室的测试,其中16个来自阵列中表现不佳的部分,另外4个样品是同一型号的,但来自不同的部分。 闪存测试显示,这16个模块平均比制造商保证的功率低6.7%。 四个未受影响的模块的平均功率比16个受影响模块的平均功率高7.8%。

EL图像显示了一种棋盘效应,这在受LETID影响的模块上很常见。 四个未受影响的模块没有显示这种模式。

PI Berlin对其中两个受影响的样品进行了LETID测试,结果是功率略有下降,这表明LETID的全部功率损失已经在现场发生。 然后进行了LETID恢复测试,结果是平均功率增加6.1%。 EL图像均匀性的改善表明LETID有了明显的恢复。 这些结果证明,LETID是造成业绩不佳的一个关键因素,至少有两个相同型号的不同BOM被交付到现场:一个是容易受LETID影响的,另一个则不是。

遵循基华的组件采购最佳实践,包括PVEL PQP测试、采购合同中的BOM规范和批量测试,将大大降低易受LETID影响的组件被运往现场的可能性。

来自LETID恢复试验的EL图像。 左边是初始结果,右边是恢复后的测试。 如果有一个不同的故障模式,LETID恢复测试就不会导致EL图像的这种变化。

细胞

评估的材料

LID和LETID完全是基于细胞的现象。 PVEL的测试结果表明,没有其他材料影响这些降解模式。

  • 细胞
探索PVEL的测试方法
要点
滚动浏览关键要点。

97% 的测试 BOM 功率损耗低于 2%。

LID + LETID 结果的中位数为 0.8%,平均值为 0.7%,其中 71% 的 BOM 在 LID 和 LETID 之后的降解率不到 1%。鉴于这些结果,PVEL 正在考虑在未来的记分卡中提高此测试的最佳表现者门槛。

2023 年记分卡测试总体中 100% 的 PERC BOM 掺杂了镓。

在历史 PQP 测试群体中,掺镓 PERC 模块具有 LID 和 LETID 后 0.7% 的中值和平均退化。这比较 历史掺硼 PERC 的中位数为 0.9%,平均值为 1.2%。

非 PERC 电池技术表现出色。

CdTe、n 型 TOPCon 和 n 型 HJT BOM 的平均 LID + LETID 功率损耗为 0.0%,中值为 0.2%,表明这些技术通常不易受这些退化模式的影响。

预应力测试失败仍然是个问题。

在 LID 测试期间将模块放置在室外进行光照会导致大量故障,包括电源标签脱落和接线盒盖脱落。 LETID 测试还导致两个 BOM 出现湿漏故障。

测试程序

为了测量LID,PVEL在户外安装了一个具有统计学意义的17个组件样本,连接到逆变器上,反复进行光照浸泡和闪光测试,直到达到IEC 61215标准的稳定性。

为了测量LETID,将两个后LID模块放在75℃的环境室中,同时注入低电流486小时。 这个电流水平模拟了在最大功率点的全日照下的操作。 模块每162小时进行一次闪光测试和EL成像。 该测试方案被设计为缓慢地接近最大的LETID速率,并且不唆使恢复过程或激活其他降解模式。

各类模型的功率衰减情况

LETID测试于2019年被引入PQP。

查看箱形图解释指南

查看顶部
表演者

点击这里查看被列为LID+LETID最佳表现的218个模型类型

LID测试结果聚焦

掺镓和工艺改进的好处清楚地显示在这个LID结果的例子中 在6个月内测试了两个PQPs的LID结果。同一个模块和电池制造商的第n期。 尽管 据报道,两者都是镓。掺杂PERC的电池,第一个BOM的平均LID为1.45%,这个结果 更为典型的是硼掺杂的PERC。 6个月后,制造商已经调整了他们的镓 电池 掺杂过程,其平均LID减少了一半以上。

LID - First BOM

一个BOM的光浸泡到稳定的结果显示平均LID为1.45%。

LID - Second BOM

6个月后同一厂家的光照浸泡到稳定结果显示
平均LID为0.69%。

超越模型类型。 采购具有顶级性能的材料清单的光伏组件。

加入PVEL的下游合作伙伴网络。

注册

继续探索2023年的记分卡