PVEL的湿热(DH)测试模拟了在高温和高湿条件下典型的长期退化和故障模式，在这种情况下，水分和热量会削弱将光伏组件结合在一起的材料。 当这些材料的粘性因低质量的部件和/或不合格的层压工艺而减弱时，水分会进入层压板并腐蚀内部材料。 其结果是潜在的性能损失和安全问题。
湿热
为什么湿热测试很重要
台湾一个1.1兆瓦的屋顶站点的业主，在2016年投入使用，在运行五年后与他们的其他站点相比，开始注意到性能不佳。 Kiwa集团的成员Extel能源公司被指定检查该地点。 他们的目视检查发现，这些模块在电池周围的金属化有明显的腐蚀，同时在微裂缝位置有 “蜗牛的足迹”。 很明显，水分通过背板和封装剂进入，造成电池表面的腐蚀。 100%的模块都受到了影响。
根据PVEL技术运营副总裁Todd Karin对光伏气候区的研究，台湾的特定湿度等级为H71。 预计这种类型的细胞腐蚀在这些高湿度地区会发生得更快、更普遍。
在PVEL的湿热测试结果中已经观察到类似的电池腐蚀，但在较短的1000小时的IEC 61215测试后，可能就不明显了。 随着更多的太阳能容量被部署在热带之间的高热和高湿地区，PQP的扩展湿热测试变得非常重要，以避免现场故障。
资料来源：(1) Karin, T., Birk Jones, C., Jain, A. 光伏气候区：影响光伏退化的气候压力因素的全球分布。 eupvsec（2019年）。 查看
细胞周围的浅色是腐蚀的视觉证据。
场地所有者安排了一个模块的样本被送去做EL成像，在那里，电池周边的腐蚀迹象更加明显。
根据光伏气候区分类系统，全球的特定湿度区。
框架胶粘剂
玻璃涂层
前面的封装剂
背部封装剂
细胞，细胞互连，通量
背板
接线盒，连接器，Pottant，胶粘剂
评估的材料
这些材料都发挥着保护光伏组件不受环境因素影响的作用，并确保所有组件牢牢地粘合在一起，抗腐蚀：
- 细胞
- 封装剂
- 玻璃涂层
- 接线盒
- 小区互连
- 连接器
- 背板
- 波坦的接线盒
- 接线盒胶粘剂
- 通量
- 框架胶粘剂
要点
滚动浏览关键要点。
中值退化 1.3%。平均退化 1.5%
DH 结果显示出显着改善，72% 的 BOM 表现出不到 2% 的退化，而 2022 年记分卡中这一比例仅为 50%。
玻璃//玻璃的退化中值为 1.0%，而玻璃//背板的退化中值为 1.9%。
此外，在制造商提交具有相同电池的玻璃//背板和玻璃//玻璃 BOM 的所有三种情况下，玻璃//背板的退化程度均大于玻璃//玻璃，在一种情况下几乎高出四倍。
CdTe、HJT、PERC 和 TOPCon 的平均退化率为 1.2% 至 1.7%。
在 DH 结果中没有看到特定于技术的异常值。此外，与 2021 年和 2022 年记分卡中的 70% 和 23% 相比，列出的最佳表现者均不需要 BO 稳定。这主要是由于向掺镓 PERC 和 n 型技术的发展。
DH 相关的断电故障降至零。
2022 年记分卡报告 4% 的 BOM 存在与 DH 相关的断电故障。今年下降到 0%。与此同时，四家制造商出现了从连接器问题到绝缘电阻不足等与 DH 相关的故障。
测试程序
DH在一个环境室中把模块置于85°C和85%的相对湿度下，进行两次1000小时的试验。 该测试是IEC认证所需时间的两倍，以确定更多的模块故障模式，即高热和强湿的组合对光伏模块层的压力。
高温和无电流的环境会导致光伏电池的硼-氧（BO）复合物不稳定。 这导致了一些掺硼PERC电池的功率损失，这在现场可能不会发生。 为了扭转这种影响，PVEL在DH测试序列的最后进行BO稳定过程。 这一稳定步骤有助于将BO引起的功率损失与传统的DH引起的功率损失区分开来，但对于非掺硼电池，如掺镓、n型或CdTe薄膜，则不太在意。
各类模型的功率衰减情况
显示的结果中，属于BO后稳定的百分比：2018年的19%，2019年的46%，2022年的95%，2021年的86%。 所有2022年的结果都是DH2000之后（BO稳定之前），这是DH测试的阶段，用于确定2023年记分卡的最佳表现者。 一些具有>10%退化的离群值没有显示。
DH测试结果聚焦
PVEL测试了由同一组件制造商生产的两个BOM，它们使用相同的电池和相同的前部封装材料。 一个是玻璃//玻璃，另一个是玻璃//背板。 玻璃//玻璃BOM在湿热测试中表现最佳，但玻璃//背板BOM在同一测试后有>7%的功率损失。 背板显然允许水分进入层压板，导致细胞腐蚀。
DH2000 - 玻璃//玻璃
玻璃//玻璃BOM后DH2000，具有原始的EL图像和1.5%的功率损耗。
DH2000 - 玻璃//背板
玻璃//背板BOM在DH2000之后，组件经历了>7%的功率损失，在电池的周边和一些母线上可以清楚地看到腐蚀的痕迹。
